Principios de análisis instrumental

" e .o o 3.0 • - - u 2.0 e: :9 u " ))) 21( Espectroscopia de electrones 535 " § e B Q) "O ·(........·.·-·- ·---·--·- L·--·--·--·--· 1 --· --· ~o 1 .O • . ---·--• .< •.----·- \ ~ . .---- -~ . .---- ~ ----- !:: ~. · - · - · - · - · 0~~--- --------------------_J o 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 Tiempo de electroion ización de ion argón , min FIGURA 21.10 Perfiles de La electroionización por bombardeo Auger de Las aleaciones de cobre-níquel que se muestran en La figura 21.8: A), muestra pasivada; B), muestra no pasi– vada; C), muestra atacada químicamente y que representa todo el material. (Adaptación a partir de G. E. McGuire et al. J. Electrochem. Soc., 1978, 125, p. 1801, DOI: 10.1149/1.2131298. Reproducida con permiso del editor, La Electrochemical Society, In c.) 40 fJ.n1 40 fJ.n1 Distancia lineal FIGURA 21.11 Barridos de Líneas Auger para el oxígeno (arriba) y para el oro (abajo) en La superficie de un semiconductor. (Cortesía de Physical Electronics, USA, Chanhassen, MN .) este fin, se utiliza una microsonda Auger que produce un haz que se puede mover a través de una superficie con una trayectoria reproducible. La figura 21.11 muestra barridos de líneas Auger a lo largo de la superficie de un dispositivo semiconductor. En la figura de arriba, la amplitud de pico relativa de un pico del oxí– geno se registra en función de la distancia a lo largo de la línea; la figura de abajo corresponde al mismo escaneo cuando el analiza– dor se coloca para detectar un pico del oro. 21C.3 Espectrometria de electrones con pérdida de energia En la espectrometría de electrones con pérdida de energía, EELS, 11 un haz de electrones de baja energía (1 a 10 eV) se enfoca en la superficie de una muestra y los electrones dispersados se analizan de acuerdo con la energía de dispersión y el ángulo de dispersión. Algunos de los electrones dispersos sufrirán pérdidas de energía debido a la excitación vibracional de las moléculas de la superfi– cie. En el caso de la espectrometría de electrones con pérdida de energía de alta resolución, se puede obtener un espectro vibrado– na! al contar el número de electrones con cierta pérdida de energía en relación con los electrones dispersados elásticamente y dando a conocer este conteo en función de la energía. Dichos espectros se han utilizado para identificar grupos funcionales en la primera capa de una superficie, entre los que se incluyen los adsorbatos, y proporciona información acerca de los enlaces químicos, como estados de oxidación y números de coordinación. En muchos casos, los espectros de EELS se obtienen junto con los experimentos de microscopía electrónica (véase la sección 21G) . Sin embargo, hay instrumentos especializados y otros com– binados con otras técnicas de espectroscopia de electrones (XPS, AES) disponibles comercialmente. Por lo regular, la resolución de los instrumentos para espectrometría de electrones con pérdida de energía es > 1 Ocm - l, lo cual es bajo comparado con los ins– trumentos IR y Raman, pero muy apropiados para identificar y caracterizar las especies de las superficies. 11 Véase R. F. Egerton, Electro11 E11ergy Loss Spectroscopy i11 the Electron Microscope, 3a. ed., New York: Springer, 2011.